半導體設備
晶圓/芯片測試
適應6至12英寸晶圓
可測試IL/PDL/RF/DC
晶圓級測試
光柵耦合/邊耦合測試
快速耦合 (<1s)
超高耦合重復性 (<0.1dB)
設備尺寸: 1200X1200X2000
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